Bei den Semiconductor Test Systems (STS) von National Instruments handelt es sich um PXI-basierte automatisierte Testsysteme, welche die Prüfkosten für RF- und Mixed-Signal-Geräte senken sollen, indem sie die Integration von PXI-Modulen von NI und anderen Herstellern in Prüfumgebungen der Halbleiterproduktion ermöglichen.
Die offene, modulare Architektur eines STS gewährt Anwendern Zugang zu den neuesten PXI-Messgeräten, den Anwender klassischer automatisierter Testsysteme aufgrund ihrer geschlossenen Architektur nicht erhalten. Durch die Testmanagementsoftware TestStand und die Systemdesignsoftware LabVIEW sind STS mit umfangreichen Funktionen für Halbleiterproduktionsumgebungen ausgestattet. Dazu zählen eine benutzerdefinierbare Bedienoberfläche, die Integration von Handler/Prober, geräteorientierte Programmierung mit Pin-Kanal-Zuordnung, Berichterstellung im standardisierten Testdatenformat und integrierter standortübergreifender Support. Diese Funktionen ermöglichen es, Testprogramme schnell zu entwickeln, auf Fehler zu untersuchen und einzusetzen, was wiederum in einer beschleunigten Markteinführung resultiert. Zusätzlich können STS direkt in eine Prüfzelle in der Halbleiterproduktion integriert werden. Dies ist dank des Prüfkopfs im Zero-Footprint-Design, Standardschnittstellen und Docking-Mechanismen möglich.
