Die Kontaktierung hochkomplexer und winzig kleiner Baugruppen wird zunehmend zur Herausforderung. Hier setzt Yamaichi mit seinem neuen Prüfadapter Y-ETI an. Dank seines modularen Designs ermöglicht er das Kontaktieren von Standard-Applikationen mit geringerer Signalgüte bis hin zu High-Performance Embedded-Lösungen. Nicht immer ist eine solche Hardware ohne externe Kontaktierung komplett prüfbar und man muss auf hochpräzise Kontakteinheiten zurückgreifen.
Modulares Design für höchste Flexibilität
Hier setzt Yamaichi mit seinem neuen Prüfadapter Y-ETI an. Der Y-ETI eröffnet dem Anwender viele neue Möglichkeiten zur Kontaktierung und Prüfung elektrischer Baugruppen – dank der Modularität und Flexibilität des Designs ist alles mit nur einem Prüfadapter realisierbar. Die erste Variante dieses robusten und leicht zu bedienenden Prüfadapters hat die Grundfläche von ca. 566 x 463 mm mit einer Höhe von ca. 197 mm. Hierbei ist die zur Verfügung stehende Arbeitsfläche, also die maximale Größe eines DUT (einzelne Baugruppe oder Mehrfachnutzen) auf ca. 270 x 270 mm begrenzt. Insgesamt stehen bis zu 1020 Verbindungen zur Verfügung, die in der Standardausführung bis zu 12,5Gbps Signale verarbeiten können. Die dafür nötige Impedanz- und Signallaufzeitanpassung wird auf dem TAB (Test Application Board) sichergestellt.
Die Hauptbestandteile des Prüfadapters bestehen aus der Grundbox, den Kontakteinheiten und der Extension-Box. Die neuartige Hebelmechanik ermöglicht eine einfache Bedienung sowie eine horizontale bzw. parallele Kontaktierung des Prüflings, ganz egal ob nur von einer Seite oder von der Ober- und Unterseite im Sandwich-Verfahren kontaktiert werden muss. Durch die Extension-Box, die an die Rückseite des Adapters durch standardmäßige Pylon-Schnittstellenblöcke mit Footprint 6-x-170-polig angedockt wird, wird die Verbindung zur jeweiligen Testsystemumgebung hergestellt. Im Gegensatz zu den meisten herkömmlichen Prüfadaptern bietet die Extension-Box den Vorteil, dass der Y-ETI nicht an ein Testsystem gebunden ist.
Fine Pitch oder größer – der Grundadapter bleibt gleich
Durch die Wahl der möglichen Kontakteinheit – entweder durch eine Kassette oder das Test Application Board (TAB) – wird der kleinstmögliche Testpitch-Abstand gewählt. Bei Baugruppen mit größerem Testpitch sowie bei unkritischen Signalen wird im Regelfall die herkömmliche Kassette eingesetzt. Die Signalverdrahtung geschieht mit Standard-ICT-Stiften und einer Wire-Wrap-Leitungsführung, die auf der Kassettenrückseite auf den handelsüblichen 170-poligen Pylon-Schnittstellenblöcken endet. Bei Applikationen mit höherer Signalqualität sowie bei Finepitch-Anforderungen ersetzt das Test Application Board (TAB) die Wechselkassette. Unter Verwendung von bis zu 0,2mm dünnen Federkontakten, die in Hochleistungskunststoffen integriert sind, lassen sich Strukturen bis 0,25 mm Testpad-Abstand realisieren. Yamaichis Finepitch-Federkontaktportfolio deckt vielfältige Anforderungen ab.
